作者: 邁迅威公司市場部發(fā)表時(shí)間:2018-01-26 14:08:57瀏覽量:2288【小中大】
表面缺陷檢測在光學(xué)影像篩選機(jī)檢測行業(yè),長期以來一直是個(gè)難題,要么誤檢率太高,要么容易漏檢,用戶 想用篩選設(shè)備,但是又不敢用,擔(dān)心買了篩選機(jī)又檢測不干凈。
針對篩選行業(yè)現(xiàn)狀,邁迅威公司研發(fā)團(tuán)隊(duì)認(rèn)真聽取用戶建議,詳細(xì)了解用戶苦衷,經(jīng)過長時(shí)間的攻關(guān)研發(fā),在表面缺陷檢測技術(shù)上取得重大突破,主要從兩個(gè)方面來解決問題的。
光源選型及特殊光源設(shè)計(jì)層面,必須要根據(jù)缺陷類型選擇或者設(shè)計(jì)出合適的光源,才能拍出適合檢測的圖像信息,便于后續(xù)識別分析;
軟件算法分析層面,再好的圖像效果,如果算法不給力也不能很好的檢測出缺陷,近年來我公司軟件研發(fā)團(tuán)隊(duì)不斷的將深度學(xué)習(xí)等先進(jìn)思想融合進(jìn)軟件里邊,使軟件功能更強(qiáng)大,更智能。
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