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    3C電子產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)方法及相關(guān)檢測(cè)設(shè)備

    作者: 上海邁迅威視覺科技有限公司發(fā)表時(shí)間:2020-08-03 11:25:41瀏覽量:2750

    電子產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)、電子產(chǎn)品包裝外觀檢測(cè)
    文本標(biāo)簽:電子產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)、電子產(chǎn)品包裝外觀檢測(cè)

    目前電子產(chǎn)品外觀表面缺陷人工檢測(cè)工作量大,效率低而且漏檢率高,迫切需求產(chǎn)品缺陷的自動(dòng)化檢測(cè);實(shí)際檢測(cè)中,塑料制品表面在光照條件下會(huì)出現(xiàn)反光,嚴(yán)重影響后續(xù)處理;缺陷微小且與制品顏色對(duì)比不明顯,采用直接閾值無(wú)法分割;針對(duì)這一現(xiàn)狀將機(jī)器視覺技術(shù)與虛擬儀器相結(jié)合,根據(jù)產(chǎn)品缺陷特征,選擇合適的光照方案抑制反光,利用銳化濾波獲取了缺陷部位特征清晰的圖像,并對(duì)邊緣模糊缺陷有效分割;識(shí)別結(jié)果表明,圖像處理算法穩(wěn)定,對(duì)絕大部分缺陷具有良好的檢測(cè)效果。

    半導(dǎo)體芯片廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域,各類電子產(chǎn)品,已經(jīng)成為經(jīng)濟(jì)發(fā)展,國(guó)家信息安全的命脈,深刻影響著現(xiàn)代人類的生活.在半導(dǎo)體芯片封裝制造過(guò)程中,不可避免地在芯片表面產(chǎn)生各類缺陷,直接影響到芯片的運(yùn)行效能及壽命.傳統(tǒng)人工目視檢測(cè)法已經(jīng)難以適應(yīng)半導(dǎo)體芯片封裝制造的高速,高精度的檢測(cè)需求.利用機(jī)器視覺技術(shù)對(duì)芯片表面缺陷進(jìn)行檢測(cè),具有無(wú)接觸無(wú)損傷,檢測(cè)精度高,速度快,穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn).盡管目前基于機(jī)器視覺的芯片缺陷檢測(cè)技術(shù)在芯片打印字符,引腳外觀尺寸位置等方面的研究已取得很好的進(jìn)展,但對(duì)于芯片表面的外觀缺陷檢測(cè)與分類研究尚處于起步。


    機(jī)器視覺作為一項(xiàng)先進(jìn)自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù),可有效提高生產(chǎn)效率和工業(yè)制造水平,視覺檢測(cè)可應(yīng)用于產(chǎn)品外觀缺陷自動(dòng)識(shí)別。本文以扣式電池為對(duì)象,研究了正負(fù)兩極面的表面外觀缺陷檢測(cè)方法。 本文設(shè)計(jì)了一種基于視覺技術(shù)的扣式電池在線檢測(cè)系統(tǒng),分析了扣式電池金屬表面缺陷成像的難點(diǎn),研究其視覺成像原理,并設(shè)計(jì)了低成本的機(jī)器視覺硬件系統(tǒng);同時(shí)開發(fā)了視覺檢測(cè)上位機(jī)軟件,實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)控制、圖像處理與識(shí)別等功能,并包含能夠?qū)崟r(shí)顯示的人機(jī)界面。 機(jī)器視覺算法是缺陷檢測(cè)技術(shù)的核心,本文重點(diǎn)研究了電池表面圖像預(yù)處理、定位和字符校正、字符區(qū)域定位和分割、缺陷分析和識(shí)別等算法。

    2020-08-03 2750人瀏覽

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